更新時(shí)間:2024-07-14
比表面積測(cè)定儀:用于炭黑及白炭黑CTAB比表面積的測(cè)定,也適用于化學(xué)分析中的濁度自動(dòng)滴定。炭黑比表面積測(cè)定儀是在GB/T3780.5《炭黑比表面積測(cè)定CTAB法》開發(fā)基礎(chǔ)上開發(fā)的分析測(cè)試儀器。
分析方法
比表面測(cè)定:BET(單點(diǎn)、多點(diǎn))比表面、Langmuir比表面、外表面測(cè)定
BJH孔徑分布測(cè)定:總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布
微孔常規(guī)分析:微孔總孔體積、總內(nèi)表面積(t-圖、D&R、MP等)
微孔孔徑分布測(cè)試:氮分壓10-5 - 10-1范圍的等溫吸附曲線測(cè)定,
0.35-2nm微孔孔徑分布分析(HK或FS法)真密度測(cè)試
技術(shù)參數(shù)
測(cè)試方法:低溫氮吸附法,靜態(tài)容量法
測(cè)試氣體:高純氮?dú)?,也可用氪、氦、二氧化碳等其他氣體
極限真空:4×10-2 Pa (3×10-4 torr)
分壓范圍:P/P0準(zhǔn)確可控范圍4×10-5 –0.995
控制精度:測(cè)試壓力點(diǎn)控制zui小間隔可小于0.1 KPa (0.75 Torr),
測(cè)試點(diǎn)大于1000個(gè)點(diǎn);
測(cè)量范圍:0.01(M2/g)-無規(guī)定上限(比表面),2 - 500nm(介孔孔徑分析),
0.35 - 2nm(微孔常規(guī)分析)
測(cè)試精度:重復(fù)性誤差±1.5%,
壓力測(cè)量: 采用高精度進(jìn)口薄膜壓力傳感器顯著提高測(cè)試精度
樣品數(shù)量:采用2個(gè)樣品分析站,可進(jìn)行2個(gè)樣品分析,
2個(gè)樣品脫氣處理
液位控制:多途徑液氮面控制與校正技術(shù),確保測(cè)試的準(zhǔn)確性,連續(xù)20h不添加液氮
測(cè)試效率:多點(diǎn)BET比表面每樣平均20-30min
預(yù) 處 理:兩個(gè)樣品同位處理,溫度50-400℃,±1℃;升溫速率與時(shí)間可單獨(dú)控制,
另可配置獨(dú)立外置4位預(yù)處理機(jī),測(cè)試效率更高
軟件:BET(單點(diǎn)、多點(diǎn))、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、HK、FS等
數(shù)據(jù)采集:高精度雙向數(shù)字采集模塊,zui強(qiáng)的靈活性完成zui全面的數(shù)據(jù)采集,
誤差小,抗干擾能力強(qiáng)
數(shù)據(jù)處理:標(biāo)準(zhǔn)的windows窗口界面,易理解、學(xué)習(xí)、操作,豐富的比表面
和孔分析模型,圖像分辨率高,易于維護(hù),兼顧到系統(tǒng)后期擴(kuò)展